2024年3月25日消息,据国家知识产权局公告,广东利扬芯片测试股份有限公司取得一项名为“一种自动化测试平台电压和频率自检系统“,授权公告号CN114200374B,申请日期为2021年12月。
专利摘要显示,本发明揭示了一种自动化测试平台电压和频率自检系统,其特征在于:所述的自检系统通过其接口模块将自检系统耦接到产品生产测试板上,并经由产品生产测试版与自动化测试平台建立通讯;在产品生产测试板的的生产过程中,所述的自检系统对自动化测试平台的电压和频率进行实时自检。本发明所述的自动化测试平台电压和频率自检系统能够在芯片封测领域的生产测试过程中实时的频率、电压测试资源的进行自检,防止测试精度异常问题导致的测试结果出现偏差导致测试可靠性变低的问题。
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